AES-8000 AC/DC EMISIONSKI SPEKTROMETER ZA OBLOČNO EMISIJO
Tipična uporaba
1. Sočasno določanje Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu in drugih elementov v geoloških vzorcih; lahko se uporablja tudi za odkrivanje sledov plemenitih kovin v geoloških vzorcih (po ločitvi in obogatitvi);
2. Določanje od več do deset nečistočnih elementov v visoko čistih kovinah in visoko čistih oksidih, vzorcih prahu, kot so volfram, molibden, kobalt, nikelj, telur, bizmut, indij, tantal, niobij itd.;
3. Analiza elementov v sledovih in elementov v sledovih v netopnih praškastih vzorcih, kot so keramika, steklo, premogov pepel itd.
Eden nepogrešljivih podpornih analitskih programov za vzorce geokemičnih raziskav
Idealno za zaznavanje nečistoč v snoveh visoke čistosti
Značilnosti
Učinkovit optični slikovni sistem
Optični sistem Ebert-Fastic in optična pot s tremi lečami učinkovito odstranjujeta razpršeno svetlobo, odpravljata halo in kromatično aberacijo, zmanjšujeta ozadje, izboljšujeta sposobnost zbiranja svetlobe, zagotavljata dobro ločljivost, enakomerno kakovost spektralnih linij in v celoti podedujeta optično pot enometrskega rešetkastega spektrografa. Prednosti.
- Kompaktna optična struktura in visoka občutljivost;
- Dobra kakovost slike, ravna goriščna ravnina;
- Stopnja disperzije obrnjene črte 0,64 nm/mm;
- Teoretična spektralna ločljivost je 0,003 nm (300 nm).
Visokozmogljiv linearni CMOS senzor in sistem za hitro zajemanje podatkov
- Uporaba CMOS senzorja, občutljivega na UV-žarke, visoka občutljivost, širok dinamični razpon, majhen temperaturni drift; ni potrebe po premazu, ni učinka širjenja spektra naprave, ni težav s staranjem filma.
- Visokohitrostni več-CMOS sinhroni sistem za zajem in obdelavo podatkov, ki temelji na tehnologiji FPGA, ne le izvaja samodejne meritve spektralnih linij analitičnih elementov, temveč tudi uresničuje funkcije samodejne kalibracije sinhronih spektralnih linij in samodejnega odštevanja ozadja.
Svetlobni vir vzbujanja AC in DC obloka
Priročno je preklapljati med izmeničnim in enosmernim oblokom. Glede na različne vzorce, ki jih je treba preskusiti, je izbira ustreznega načina vzbujanja koristna za izboljšanje analize in rezultatov preskusa. Za neprevodne vzorce izberite izmenični način, za prevodne vzorce pa enosmerni način.
Samodejna poravnava elektrod
Zgornja in spodnja elektroda se samodejno premakneta v določeni položaj v skladu z nastavitvami parametrov programske opreme, po končanem vzbujanju pa se elektrode odstranijo in zamenjajo, kar je enostavno za uporabo in ima visoko natančnost poravnave.
Priročno okno za ogled
Patentirana tehnologija projekcije slikanja elektrod prikazuje celoten proces vzbujanja na opazovalnem oknu pred instrumentom, kar uporabnikom omogoča priročno opazovanje vzbujanja vzorca v vzbujevalni komori in pomaga razumeti lastnosti in vzbujevalno vedenje vzorca.
Zmogljiva programska oprema za analizo
- Samodejna kalibracija spektralnih črt v realnem času za odpravo vpliva zdrsa instrumenta;
- Ozadje se samodejno odšteje, da se zmanjša vmešavanje človeških dejavnikov;
- Z algoritmom za ločevanje spektralnih linij zmanjšajte vpliv spektralnih motenj;
- Samodejno preklapljanje med večspektralnim določanjem za razširitev obsega zaznavne vsebine;
- Kombinacija dveh metod prilagajanja izboljša natančnost analize vzorca;
- Obilne informacije o spektralnih linijah, ki širijo področje uporabe analize;
- Posebna programska oprema za analizo, primerna za različne zahteve glede testiranja vzorcev.
- Priročna funkcija naknadne obdelave podatkov skrajša eksperimentalni postopek in naredi obdelavo podatkov bolj prilagodljivo
Varnostna zaščita
- Spremljanje pretoka hladilne vode v elektrodni sponki lahko prepreči visokotemperaturno sežiganje elektrodne sponke;
- Za zaščito varnosti upravljavcev aktivirajte varnostno zaporo vrat komore.
Parametri
| Oblika optične poti | Vertikalno simetrični Ebert-Fastic tip | Trenutni razpon | 2~20A (izmenični tok) 2~15A (enosmerni tok) |
| Ravne rešetke | 2400 kosov/mm | Vzbujevalni vir svetlobe | AC/DC oblok |
| Goriščna razdalja optične poti | 600 mm | Teža | Približno 180 kg |
| Teoretični spekter | 0,003 nm (300 nm) | Dimenzije (mm) | 1500 (D) × 820 (Š) × 650 (V) |
| Ločljivost | 0,64 nm/mm (prvi razred) | Konstantna temperatura spektroskopske komore | 35 °C ± 0,1 °C |
| Razmerje disperzije padajoče črte | Sinhroni visokohitrostni sistem za zajemanje podatkov, ki temelji na tehnologiji FPGA za visokozmogljiv CMOS senzor | Okoljski pogoji | Sobna temperatura 15 °C~30 °C Relativna vlažnost <80 % |
