AES-8000 AC/DC ARC EMISIJSKI SPEKTROMETER
Tipična uporaba
1. Simultano določanje Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu in drugih elementov v geoloških vzorcih;lahko se uporablja tudi za odkrivanje sledov elementov plemenitih kovin v geoloških vzorcih (po separaciji in obogatitvi);
2. Določanje več do deset elementov nečistoč v kovinah visoke čistosti in oksidih visoke čistosti, vzorcih prahu, kot so volfram, molibden, kobalt, nikelj, telur, bizmut, indij, tantal, niobij itd.;
3. Analiza sledov in elementov v sledovih v vzorcih netopnega prahu, kot so keramika, steklo, premogov pepel itd.
Eden od nepogrešljivih podpornih programov za analizo vzorcev geokemičnih raziskav
Idealen za odkrivanje komponent nečistoč v snoveh visoke čistosti
Lastnosti
Učinkovit optični slikovni sistem
Optični sistem Ebert-Fastic in optična pot s tremi lečami sta prilagojena za učinkovito odstranjevanje razpršene svetlobe, odpravo halo in kromatskih aberacij, zmanjšanje ozadja, izboljšanje zmožnosti zbiranja svetlobe, dobro ločljivost, enakomerno kakovost spektralne črte in popolno podedovanje optične poti enega -metrski rešetkasti spektrograf Prednosti.
- Kompaktna optična struktura in visoka občutljivost;
- Dobra kakovost slike, ravna goriščna ravnina;
- Stopnja disperzije obrnjene črte 0,64 nm/mm;
- Teoretična spektralna ločljivost je 0,003 nm (300 nm).
Visokozmogljiv CMOS senzor z linearnim nizom in hitri sistem zajemanja
- Uporaba UV-občutljivega CMOS senzorja, visoke občutljivosti, širokega dinamičnega razpona, majhnega temperaturnega premika;ni potrebe po premazu, ni učinka razširitve spektra naprave, ni problema staranja filma.
- Visokohitrostni multi-CMOS sinhroni sistem za zajemanje in obdelavo podatkov, ki temelji na tehnologiji FPGA, ne le dokonča avtomatsko merjenje spektralnih linij analitičnega elementa, ampak tudi uresničuje funkcije samodejne kalibracije sinhronih spektralnih linij in samodejnega odštevanja ozadja
AC in DC vir vzbujanja obloka
Priročno je preklapljati med AC in DC obloki.Glede na različne vzorce, ki jih je treba testirati, je izbira ustreznega načina vzbujanja koristna za izboljšanje analiz in rezultatov testiranja.Za neprevodne vzorce izberite način AC, za prevodne vzorce pa način DC.
Samodejna poravnava elektrod
Zgornja in spodnja elektroda se samodejno premakneta v določen položaj glede na nastavitve parametrov programske opreme in po končanem vzbujanju odstranite in zamenjajte elektrodi, kar je enostavno za uporabo in ima visoko natančnost poravnave.
Priročno okno za ogled
Patentirana tehnologija projekcije slikanja elektrod prikazuje ves proces vzbujanja na opazovalnem oknu pred instrumentom, kar je priročno za uporabnike pri opazovanju vzbujanja vzorca v vzbujevalni komori in pomaga razumeti lastnosti in obnašanje vzbujanja vzorca .
Zmogljiva programska oprema za analizo
- Samodejna kalibracija spektralnih linij v realnem času za odpravo vpliva odmika instrumenta;
- Ozadje se samodejno odšteje, da se zmanjša motnja človeških dejavnikov;
- Z algoritmom za ločevanje spektralnih linij zmanjšajte vpliv spektralnih motenj;
- Samodejno preklapljanje določanja več spektrov za razširitev obsega vsebine detekcije;
- Kombinacija dveh metod prilagajanja izboljša natančnost analize vzorca;
- Obilje informacij o spektralnih črtah, ki širijo področje uporabe analize;
- Posebna programska oprema za analizo, primerna za različne zahteve testiranja vzorcev.
- Priročna funkcija naknadne obdelave podatkov skrajša eksperimentalni proces in naredi obdelavo podatkov bolj prilagodljivo
Varnostna zaščita
- Nadzor pretoka hladilne krožne vode elektrodne sponke se lahko izogne visokotemperaturnemu gorenju elektrodne sponke;
- Aktivirajte varnostno zaporo vrat komore, da zaščitite varnost operaterjev.
Parametri
| Oblika optične poti | Vertikalno simetrični tip Ebert-Fastic | Trenutni obseg | 2~20A (AC) 2~15A (DC) |
| Ravne rešetke | 2400 kosov/mm | Vir vzbujanja svetlobe | AC/DC oblok |
| Goriščna razdalja optične poti | 600 mm | Utež | Približno 180 kg |
| Teoretični spekter | 0,003 nm (300 nm) | Mere (mm) | 1500(D)×820(Š)×650(V) |
| Resolucija | 0,64 nm/mm (prvi razred) | Konstantna temperatura spektroskopske komore | 35°C±0,1°C |
| Razmerje disperzije padajoče črte | Sinhroni hitri zajemni sistem, ki temelji na tehnologiji FPGA za visoko zmogljiv senzor CMOS | Okoljske razmere | Sobna temperatura 15 OC~30 OC Relativna vlažnost<80% |